集成电路高温动态老炼系统

一、产品概述
   试验标准：符合MIL-STD-883D、MIL-M-38510、GJB548、GJB597等试验标准要求；
   适用范围：适用于各种封装形式的大、中、小规模数字、模拟、数模混合集成电路工作寿命试验和高温动态老炼筛选。


二、技术参数
技术参数
参数分类	参数名称	技术指标
试验箱	配置型号	高温箱一台，水平横向循环风道设计，温度更均匀，试验腔尺寸60cm×60cm×120cm。
	试验温度	环境温度～175℃，试验箱温度控制精度：≤±1℃，试验箱温度均匀度：≤±3℃。
	温度保护	独立的温度检测、监测、**温报警系统,当试验箱温度**过设定的温度时,自动声报警并切断高温试验箱的供电电源；避免由于高温试验箱温度波动或失控造成被试验器件损坏，使试验箱工作处于多重保护状态。
	温度记录	电脑实时检测、记录试验箱温度，实时描绘试验箱的温度-时间曲线，在整个试验过程中实时监控高温试验箱的温度，防止试验箱温度波动导致器件失效。
区域容量	试验区域	标配16个区，可同时试验8种器件。
	试验通道	32个通道。
	试验容量	
一级电源	电源配置	数量16台；规格0～40V/30A。
	电源保护功能	每路电源均可恒压、恒流工作，具有过压、过流、短路、过热等保护功能。
	电源检测记录	电源输出均计算机在线检测，记录描述全过程试验电压曲线，便于试验监控。
	其他	输出电压的电源规格可按要求选配。
二级电源	电源路数	输出电源路数为：4路。
	电源类型	VCC（正工作电源）、VEE（负工作电源）
VMUX（负载电源）、VCLK（信号电平）
	输出幅度	VCC：+2.0V～+19.9V/10A、VEE：-2.0V～-19.9V?/10A
VMUX：+2.0V～+19.9V?/10A、VCLK：+2.0V～+18.0V/5A
	保护功能	试验电源过压、欠压、过流、短路和过热等联动保护功能，确保试验电源的可靠性。
	检测记录	电源输出均计算机在线检测，记录描述全过程试验电压曲线，便于试验监控。
数字信号	信号类型	数据、地址、控制及三态功能。
	较高频率	1MHZ
	较小编程分辨率	100ns
	较大自由编程深度	256K
	信号幅度	+2.0V～+18.0V
	幅度编程步长	0.5us—524288us
	寻址深度	64G（动态RAM/静态RAM）
	较大驱动电流	I0L≤150mA，I0H≤100mA
参数分类	参数名称	技术指标
模拟信号	模拟信号数	每块控制检测板提供4路可独立编程的模拟信号。
	波形类型	正弦波、三角波、*及后沿锯齿波、矩形波等5种。
	频率范围	1Hz～32KHz
	信号幅度VPP	±0.5V～±10V
	幅度编程步长	0.1V
	直流偏移量	0～±VPP/2
	较大驱动电流	1A

驱动板	配置	16块
	电压检测	在线检测全过程曲线记录VCC、VMUX、VCLK、VEE输出电压，检测范围：0.00V～±40.00V；精度：1%±1LSB；
	信号检测	数字、模拟信号驱动，输入输出信号检测；系统每通道设计32路信号监测，**或巡回检测器件输出信号的频率、峰值、谷值，也可通过示波器观察，判断失效情况。
老化板	基板	根据用户要求选配，标配基板TG170，特殊高温可按要求定制。
	老化座	老化座Socket均采用耐高温、抗氧化、耐疲劳材料。
	规格尺寸	280mm×600mm。
	总线接口	100Pin+72Pin-2.54。